Signal generator

我们的集成电路和参考设计可帮助您创建任意波形发生器 (AWG)，使其具有高速和宽动态范围，生成噪声超低的信号，并处理 GSPS 信号生成、相关高频、超低相位噪声时钟生成和多通道相位同步。

无线通信测试

我们的集成电路和参考设计可帮助您创建任意波形发生器 (AWG)，使其具有高速和宽动态范围，生成噪声超低的信号，并处理 GSPS 信号生成、相关高频、超低相位噪声时钟生成和多通道相位同步。

LCD 测试

我们的集成电路和参考设计可帮助您创建高密度、高性能、多通道液晶显示器 (LCD) 测试设备，从而更大程度地减少由于基准电压加载、时钟和功率导致的通道间变化。

半导体制造

我们的集成电路和参考设计有助于创建高精度半导体制造设备，从而实现精确的过程和质量控制。

内存和半导体测试设备

我们的集成电路和参考设计可帮助您在晶圆、封装和板级创建高精度半导体测试设计，从而提供密集型解决方案以实现高通道数，同时更大限度减少通道间差异。

汽车测试

我们的集成电路和参考设计有助于创建高精度汽车测试设备，从而用于在车辆制造和维修期间对所有汽车子系统进行精确测试。

电池测试

借助我们的集成电路和参考设计，您可以创建高密度电池测试设备，从而在电池化成和测试期间准确地监视和控制充放电 I/V 曲线。不同的架构为不同功率级的成本和性能进行了优化。